ISSN 0236-235X (P)
ISSN 2311-2735 (E)

Journal influence

Higher Attestation Commission (VAK) - К1 quartile
Russian Science Citation Index (RSCI)

Bookmark

Next issue

2
Publication date:
16 June 2024

The article was published in issue no. № 3, 1989
Abstract:
Аннотация:
Authors: () - , () - , () -
Ключевое слово:
Page views: 8878
Print version

Font size:       Font:

Промышленное освоение запоминающих устройств на цилиндрических магнитных доменах (ЦМД ЗУ) выдвинуло проблему создания автоматизированных систем их контроля (АСК). Разработанная в Институте электронных управляющих машин АСК предлагает широкий набор возможностей для контроля и испытаний ЦМД ЗУ и решает эту проблему.

Основой АСК является микроЭВМ, совместимая с СМ1800, СМ1300 или «Электроника-60». Опыт показывает целесообразность следующих уровней контроля:

•   ЦМД-микросхема (ЦМД МС);

•   модуль накопителя;

•   комплексная проверка работоспособности ЦМД ЗУ.

Задачей тестирования ЦМД МС является проверка их работоспособности в диапазоне параметров, оговоренных в ТУ. Аппаратура АСК ЦМД МС содержит:

• блок элементов (БЭ) сопряжения с интерфейсом И41, ОШ или МПИ;

■ БЭ контроллера для управления записью и считыванием информации в ЦМД МС;

• БЭ программируемых формирователей функциональных импульсов. Тестовое программное обеспечение реализует:

ш измерение параметров функциональных узлов проверяемой ЦМД МС с одновременным контролем их принадлежности к допустимому диапазону;

• изменение

амплитуды функциональных импульсов,

фазы и длительности функциональных импульсов,

временной диаграммы работы ЦМД МС,

•   запись в ЦМД МС и считывание (однократное или многократное) различных кодовых последовательностей:

•   диагностику, анализ ошибок и определение карты расположения дефектных на копительных регистров в ЦМД МС;

•   документирование результатов контроля.

Программное обеспечение для варианта привязки к СМ1800 написано на языке BASTC, для варианта привязки к СМ1300 и «Электроника-60» — на языке PASCAL

Информационная емкость испытываемых ЦМД МС ■— до 4 Мбитов.

Задачи этапа тестирования модуля накопителя ЦМД ЗУ: отбор совместимых по заданным параметрам комплектов ЦМД МС, установленных на один модуль накопителя; проверка правильности функционирования модулей накопителя; определение карты дефектов (КД) накопительных регистров; подготовка файла для прожига ПЗУ КД с выводом информации на АЦПУ (гибкий диск, дисплей).

Аппаратура тестирования модуля накопителя ЦМД ЗУ содержит:

•    БЭ диагностического контроллера;

•    БЭ модуля накопителя, укомплектованный колодками для установки 4^-8 ЦМД МС различных типов:

•  адаптеры связи контроллера с интерфейсами МПИ или ОШ. Программное обеспечение написано на языке BASIC (для микроЭВМ СМ1800)

и на языках PASCAL или QUASIC (для микроЭВМ СМ1300 и «Электроника-60»). Тестовое программное обеспечение реализует:

•   настройку на работу с определенным типом ЦМД МС;

•   формирование различных тестовых последовательностей и выполнение тестов в режиме диалога или автоматическом режиме;

•   диагностику и документирование карты дефектных накопительных регистров каждой из ЦМД МС, установленных на модуле накопителя, в том числе подго товку файла для прожига ПЗУ карты дефектности.

Методика контроля модуля накопителя основана на опыте наладки ЦМД ЗУ. Гарантией работоспособности модулей накопителя является выполнение совокупности тестов, основной из которых — тест, задающий режим «теплового удара», т. е. работу ЦМД МС при минимальной скважности обращения. Время тестирования модуля накопителя с четырьмя ЦМД МС — около 3 часов (для СМ1800).

АСК позволяет выполнить контроль накопителя на основе любых из разработанных в настоящее время ЦМД МС: К160РУ2, К1605РУТ, МЦ706, К1602РУЗ.

Заключительный этап испытаний предполагает контроль совместной работы модулей накопителя с контроллером ЦМД ЗУ. Проверка функционирования ЦМД ЗУ выполняется по общей методике, применяемой для электромеханических ЗУ с учетом специфики их функционирования. Специфика теста данных в ЦМД ЗУ заключается в том, что тестирование производится при максимальной интенсивности поступления запросов на доступ.

Применение разработанных программно-аппаратных тестовых средств обеспечивает изготовление ЦМД ЗУ с вероятностью сбоя на уровне 10 -и11бит.


Permanent link:
http://swsys.ru/index.php?page=article&id=1381&lang=en
Print version
The article was published in issue no. № 3, 1989

Perhaps, you might be interested in the following articles of similar topics: